YYP-QKD-E ମାନୁଆଲ୍ ନଚ୍ ପ୍ରୋଟୋଟାଇପିଂ ମେସିନ୍

ସଂକ୍ଷିପ୍ତ ବର୍ଣ୍ଣନା:

୧.ପ୍ରିସିସନ୍ ଉପକରଣ ଏବଂ ପରୀକ୍ଷଣ ଉପକରଣ ପାଇଁ ଯାନ୍ତ୍ରିକ ସମାଧାନ

ଇଜୋଡ୍ ଏବଂ ଚାର୍ପି ଇମ୍ପାକ୍ଟ ପରୀକ୍ଷକଗୁଡ଼ିକରେ ଅଣ-ଧାତୁ ସାମଗ୍ରୀ ପ୍ରଭାବ କଠିନତା ପରୀକ୍ଷା ପାଇଁ ନଚ୍ ହୋଇଥିବା ନମୁନା ପ୍ରସ୍ତୁତ କରିବା ପାଇଁ ମାନୁଆଲ୍ ନଚ୍ ପ୍ରୋଟୋଟାଇପିଂ ମେସିନ୍ ବ୍ୟବହୃତ ହୁଏ।

୨।ପ୍ରଯୁଜ୍ୟ ମାନକଗୁଡ଼ିକ

  • ISO 180:2000ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ — କଠୋର ସାମଗ୍ରୀର ଇଜୋଡ୍ ପ୍ରଭାବ ଶକ୍ତି ନିର୍ଣ୍ଣୟ
  • ଜିବି/ଟି ୧୮୪୩:୨୦୦୮କଠୋର ପ୍ଲାଷ୍ଟିକର ଇଜୋଡ୍ ପ୍ରଭାବ ପାଇଁ ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି
  • ଜେବି/ଟି ୮୭୬୧:୧୯୯୮ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ ଇଜୋଡ୍ ପ୍ରଭାବ ପରୀକ୍ଷଣ ମେସିନ୍
  • ASTM D256:2010ପ୍ଲାଷ୍ଟିକର ଇଜୋଡ୍ ପେଣ୍ଡୁଲମ୍ ପ୍ରଭାବ ପ୍ରତିରୋଧ ନିର୍ଣ୍ଣୟ ପାଇଁ ମାନକ ପରୀକ୍ଷଣ ପଦ୍ଧତି
  • ISO 179:2000ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ — କଠୋର ସାମଗ୍ରୀର ଚାର୍ପି ପ୍ରଭାବ ଶକ୍ତି ନିର୍ଣ୍ଣୟ
  • ଜିବି/ଟି ୧୦୪୩:୨୦୦୮କଠୋର ପ୍ଲାଷ୍ଟିକର ଚାରପି ପ୍ରଭାବ ପାଇଁ ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି
  • ଜେବି/ଟି ୮୭୬୨:୧୯୯୮ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ ଚାରପି ପ୍ରଭାବ ପରୀକ୍ଷଣ ମେସିନ୍

ଉତ୍ପାଦ ବିବରଣୀ

ଉତ୍ପାଦ ଟ୍ୟାଗ୍‌ଗୁଡ଼ିକ

୧.ଟେକ୍ନିକାଲ୍ ପାରାମିଟରଗୁଡ଼ିକ

  • କଟର ଷ୍ଟ୍ରୋକ୍: 24 ମିମି
  • ଫିଡ୍ ଗତି: ସର୍ବାଧିକ 4 ମିମି/ମିନିଟ୍
  • ଫିଡ୍ ହାର: ପ୍ରତି ଷ୍ଟ୍ରୋକ୍ ପାଇଁ ୦.୫ ମିମି
  • ଖାଇବା ଯାତ୍ରା: 10 ମିମି
  • ନମୁନା ପ୍ରକାର: ପ୍ରକାର 1, ପ୍ରକାର 2, ପ୍ରକାର 3
  • ନଚ୍ ପ୍ରକାର: ପ୍ରକାର A; ପ୍ରକାର B (ଇଚ୍ଛାଧୀନ); ପ୍ରକାର C (ଇଚ୍ଛାଧୀନ)
  • ଟାଇପ୍ A କଟର: 45±1°, r=0.25±0.025 ମିମି
  • ପ୍ରକାର B କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): 45±1°, r=1.0±0.025 ମିମି
  • ଟାଇପ୍ C1 କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): 45±1°, r=0.1±0.02 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C2 କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): ଘନତା 2±0.1 ମିମି, r≤0.1 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C3 କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): ଘନତା 0.8±0.1 ମିମି, r=0.2±0.05 ମିମି
  • ପ୍ରୋଫାଇଲ୍ ପାଇଁ ସ୍ୱତନ୍ତ୍ର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): 45±1°, r=0.2±0.056 mm

୨।କଟର୍ ପାରାମିଟରଗୁଡ଼ିକ

  • ଟାଇପ୍ A କଟର: 45±1°, r=0.25±0.025 ମିମି
  • ପ୍ରକାର B କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): 45±1°, r=1.0±0.025 ମିମି
  • ଟାଇପ୍ C1 କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): 45±1°, r=0.1±0.02 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C2 କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): ଘନତା 2±0.1 ମିମି, r≤0.1 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C3 କଟର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): ଘନତା 0.8±0.1 ମିମି, r=0.2±0.05 ମିମି
  • ପ୍ରୋଫାଇଲ୍ ପାଇଁ ସ୍ୱତନ୍ତ୍ର (ଇଚ୍ଛାଧୀନ): 45±1°, r=0.2±0.056 mm

 




  • ପୂର୍ବବର୍ତ୍ତୀ:
  • ପରବର୍ତ୍ତୀ:

  • ଆପଣଙ୍କ ବାର୍ତ୍ତା ଏଠାରେ ଲେଖନ୍ତୁ ଏବଂ ଆମକୁ ପଠାନ୍ତୁ।