YYP-QKD-V ଇଲେକ୍ଟ୍ରିକ୍ ନଚ୍ ପ୍ରୋଟୋଟାଇପିଂ ମେସିନ୍

ସଂକ୍ଷିପ୍ତ ବର୍ଣ୍ଣନା:

1. ଉତ୍ପାଦ ପରିଚୟ

ଇଲେକ୍ଟ୍ରିକ୍ ନଚ୍ ପ୍ରୋଟୋଟାଇପିଂ ମେସିନ୍ ଇଜୋଡ୍ ଏବଂ ଚାର୍ପି ଇମ୍ପାକ୍ଟ ପରୀକ୍ଷକ ସହିତ ଅଣ-ଧାତୁ ସାମଗ୍ରୀ ପ୍ରଭାବ ଦୃଢ଼ତା ପରୀକ୍ଷା ପାଇଁ ନଚ୍ ହୋଇଥିବା ନମୁନା ପ୍ରସ୍ତୁତ କରିବା ପାଇଁ ବ୍ୟବହୃତ ହୁଏ। ଏହା ଗବେଷଣା ପ୍ରତିଷ୍ଠାନ, ବିଶ୍ୱବିଦ୍ୟାଳୟ, ଅଣ-ଧାତୁ ସାମଗ୍ରୀ ନିର୍ମାତା ଏବଂ ଅନ୍ୟାନ୍ୟ ୟୁନିଟ୍‌ଗୁଡ଼ିକରେ ନଚ୍ ହୋଇଥିବା ନମୁନା ଉତ୍ପାଦନ ପାଇଁ ପ୍ରୟୋଗଶାଳା ପାଇଁ ଉପଯୁକ୍ତ।

2. ନଚ୍ ପ୍ରସ୍ତୁତି ପାଇଁ ସନ୍ଦର୍ଭ ମାନକ

  • ISO 180:2000ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ — କଠୋର ସାମଗ୍ରୀର ଇଜୋଡ୍ ପ୍ରଭାବ ଶକ୍ତି ନିର୍ଣ୍ଣୟ
  • ଜିବି/ଟି ୧୮୪୩:୨୦୦୮କଠୋର ପ୍ଲାଷ୍ଟିକର ଇଜୋଡ୍ ପ୍ରଭାବ ପାଇଁ ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି
  • ଜେବି/ଟି ୮୭୬୧:୧୯୯୮ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ ଇଜୋଡ୍ ପ୍ରଭାବ ପରୀକ୍ଷଣ ମେସିନ୍
  • ASTM D256:2010ପ୍ଲାଷ୍ଟିକର ଇଜୋଡ୍ ପେଣ୍ଡୁଲମ୍ ପ୍ରଭାବ ପ୍ରତିରୋଧ ନିର୍ଣ୍ଣୟ ପାଇଁ ମାନକ ପରୀକ୍ଷଣ ପଦ୍ଧତି
  • ISO 179:2000ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ — କଠୋର ସାମଗ୍ରୀର ଚାର୍ପି ପ୍ରଭାବ ଶକ୍ତି ନିର୍ଣ୍ଣୟ
  • ଜିବି/ଟି ୧୦୪୩:୨୦୦୮କଠୋର ପ୍ଲାଷ୍ଟିକର ଚାରପି ପ୍ରଭାବ ପାଇଁ ପରୀକ୍ଷା ପଦ୍ଧତି
  • ଜେବି/ଟି ୮୭୬୨:୧୯୯୮ପ୍ଲାଷ୍ଟିକ୍ ଚାରପି ପ୍ରଭାବ ପରୀକ୍ଷଣ ମେସିନ୍

ଉତ୍ପାଦ ବିବରଣୀ

ଉତ୍ପାଦ ଟ୍ୟାଗ୍‌ଗୁଡ଼ିକ

3. ଟେକ୍ନିକାଲ୍ ନିର୍ଦ୍ଦିଷ୍ଟକରଣ

  • କାମ ଟେବୁଲ ଷ୍ଟ୍ରୋକ୍: >୧୬୦ ମିମି
  • ଉପକରଣ ଖାଇବା ଗତି: 30 ମିମି/ମିନିଟ୍
  • ନମୁନା ପ୍ରକାର: ପ୍ରକାର 1, ପ୍ରକାର 2, ପ୍ରକାର 3
  • ନଚ୍ ପ୍ରକାର: ପ୍ରକାର A, ପ୍ରକାର B (ଇଚ୍ଛାଧୀନ), ପ୍ରକାର C (ଇଚ୍ଛାଧୀନ)
  • ଟାଇପ୍ A କଟର: 45±1°, r=0.25±0.025 ମିମି
  • ପ୍ରକାର B କଟର: 45±1°, r=1.0±0.025 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C1 କଟର: 45±1°, r=0.1±0.02 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C2 କଟର: ମୋଟେଇ 1=2±0.1 ମିମି, r≤0.1 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C3 କଟର: ଘନତା 2=0.8±0.1 ମିମି, r=0.2±0.05 ମିମି

4. ଉପକରଣ ପାରାମିଟରଗୁଡ଼ିକ

  • ଟାଇପ୍ A କଟର: 45±1°, r=0.25±0.025 ମିମି
  • ପ୍ରକାର B କଟର: 45±1°, r=1.0±0.025 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C1 କଟର: 45±1°, r=0.1±0.02 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C2 କଟର: ମୋଟେଇ 1=2±0.1 ମିମି, r≤0.1 ମିମି
  • ପ୍ରକାର C3 କଟର: ଘନତା 2=0.8±0.1 ମିମି, r=0.2±0.05 ମିମି



  • ପୂର୍ବବର୍ତ୍ତୀ:
  • ପରବର୍ତ୍ତୀ:

  • ଆପଣଙ୍କ ବାର୍ତ୍ତା ଏଠାରେ ଲେଖନ୍ତୁ ଏବଂ ଆମକୁ ପଠାନ୍ତୁ।